先进节点首次流片成功：如何降低流片风险

SoC 成本的飙升意味着，传统的测试无法捕捉到所有低于 7 纳米的逃逸问题。早期的正式验证、统一的工作流程以及严格的门控签核是避免代价高昂的重新设计的关键。